搜索關(guān)鍵詞:IP防護(hù)等級(jí)試具,IP防水防塵試驗(yàn)設(shè)備,晶振測(cè)試儀
溫升測(cè)試是電器產(chǎn)品型式試驗(yàn)中常規(guī)的試驗(yàn)項(xiàng)目,溫升試驗(yàn)的目的是測(cè)試電器產(chǎn)品及部件的溫度變化情況,以確定電器產(chǎn)品或部件是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。隨著電器產(chǎn)器日新月異的發(fā)展,溫升試驗(yàn)對(duì)電器設(shè)備及部件產(chǎn)品安全性變得越來(lái)越重要。溫升測(cè)試是型式試驗(yàn)項(xiàng)目,也是新產(chǎn)品定型的主要試驗(yàn)項(xiàng)目之一。對(duì)于派生產(chǎn)品或正常產(chǎn)品,由于產(chǎn)品工藝的重大改變,主要部件原材料的代用,出廠產(chǎn)品中實(shí)測(cè)損耗值超出標(biāo)準(zhǔn),懷疑能否達(dá)到額定功率時(shí),均要進(jìn)行溫升試驗(yàn)。溫升測(cè)試是針對(duì)電源線接頭、插座、拖線板、轉(zhuǎn)換插、接線端子、連接器、開(kāi)關(guān)等電連接設(shè)備安全性能檢測(cè)的。
溫升測(cè)試角標(biāo)準(zhǔn):
溫升試驗(yàn)在電子、電器產(chǎn)品的安全標(biāo)準(zhǔn)如GB8898(IEC60065),GB4943(IEC60950)、GB4706(IEC60335)、GB7000(IEC60598)中都有明確的要求,其試驗(yàn)方法主要有熱電偶法和電阻法。
參考:GB/T 2423.22,IEC ,EN 。
熱電偶法是將熱電偶粘貼在設(shè)備部件表面,通過(guò)溫度測(cè)量?jī)x器設(shè)備部件表面的溫度來(lái)計(jì)算出溫升。 用熱電偶法測(cè)量溫升的影響因素時(shí),應(yīng)當(dāng)提前考慮:熱電偶、溫度測(cè)量?jī)x、膠黏劑、測(cè)試的環(huán)境條件、試驗(yàn)工程師的操作水平等因素的影響,并將這些影響因素控制在Z小。
溫升測(cè)試角的目的:
評(píng)判產(chǎn)品在溫度變化條件下的存貯或工作適應(yīng)性。 鑒定性試驗(yàn)?zāi)康氖菣z查產(chǎn)品是否達(dá)到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求;改進(jìn)試驗(yàn)主要用做評(píng)定產(chǎn)品在溫度變化條件下的耐久性和可靠性適應(yīng)能力
溫升測(cè)試條件和流程:
溫升測(cè)試角的條件
電壓:額定電壓的上限和下限或額定電壓范圍的上限和下限
頻率:額定頻率的上限和下限或額定頻率范圍的上限和下限
負(fù)載:正常工作時(shí)的大負(fù)載或負(fù)載組合中的嚴(yán)重情況(輸入電流大的情況)。
環(huán)境:如做UL認(rèn)證,可在常溫下進(jìn)行測(cè)試。如做TUV認(rèn)證,須在高的工作溫度下進(jìn)行測(cè)試。
注:如果在常溫上進(jìn)行此項(xiàng)測(cè)試,須考慮換算問(wèn)題:測(cè)得的溫度加上高工作環(huán)境溫度與常溫之間的差值,即得到終的溫度。
熱電偶的位置:
所有關(guān)鍵性元器件。如在相同或類似的位置,可取其中的一個(gè)。
注:關(guān)鍵性元器件可參考本資料的第2章“安規(guī)元器件"。
測(cè)試流程
1、確定受測(cè)的元器件。
2、將熱電偶粘到受測(cè)的元器件上。注意熱電偶的位置,應(yīng)是可能的發(fā)熱嚴(yán)重的地方。
3、開(kāi)機(jī),將輸入電壓調(diào)到額定電壓的上限或額定電壓范圍的上限,輸入頻率調(diào)到額定頻率的下限或額定頻率范圍的下限,輸出負(fù)載調(diào)到要求的大小。
4、讓受試設(shè)備持續(xù)工作,直至受試設(shè)備達(dá)到熱平衡。
5、記錄熱電偶的讀數(shù)。
注:如果熱電偶的讀數(shù)在30分鐘內(nèi)的變化小于1℃,則可認(rèn)為熱電偶達(dá)到了熱平衡。
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